LT2200激光粒度分析仪真理光学基于多年的科研成果开发的新一代超高速智能激光粒度分析系统，其多项技术性能和指标均超过当前激光粒度仪的最高水平，成为当今粒度仪市场具有极高性价比的产品。

    LT2200加持了以下多项创新和专利技术：

    ◆偏振滤波技术

    ◆衍射爱里斑反常变化（ACAD)的补偿修正技术

    ◆斜入射反傅里叶光路配置

    ◆格栅式大角度检测阵列技术

    ◆粒度分析模式优化及自适应技术

    ◆连续液位感知及控制技术

    ◆高灵敏度光能跟踪及稳定技术

    LT2200光学测量系统的卓越性能还包括：

    ◆完全符合ISO13320衍射法测量技术标准

    ◆独特的光路配置，超大连续的物理测量角度

    ◆改进型反演算法，用户无需选择“分析模式”，兼顾极高的分辨率和稳定性

    ◆无需更换透镜，无需使用标准样校准，量程范围达到0.02微米至2200微米

    ◆采用全息信号同步处理技术，实时测量速度最高达每秒20000次，不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息

    ◆采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统，彻底克服了氦氖气体激光器预热时间长，使用寿命短的缺点

    ◆采用偏振空间滤波技术，彻底摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器

    注：*文中关联之专利技术为我司应产品性能需要使用不限于下述部分或全部专利技术，最终解释权归真理光学所有。真理光学为ZL201720195784.7/ZL201720374474.1/ZL201720189750.7/ZL201621332818.4/ZL201810552388.4/ZL201921219223.1/ZL201911071791.6/ZL202121718637.6/ZL202122186274.2专利权持有人。